基于虚拟仪器技术的手机翻盖耐久性测试系统（New）

分类：技术教程日期：2009-06-08 11:40:21 来源：

A Cell Phone Hinge Test System Based on Virtual Instrument Technology

徐达周毅

上海聚星仪器有限公司

应用领域：
电信

挑战：
手机翻盖耐久性测试即将待测翻盖手机重复开合预设的次数，然后观察手机的各部分性能是否完好，这在翻盖手机的生产过程中是相当重要的一环。而采用National Instruments公司的虚拟仪器（LabVIEW）进行开发，使操作界面非常友好。
在测试过程中操作人员针对每批不同型号的手机在初次测试时可使用微调功能将各个参数调整至理想值，并且可将这些参数存成相应的配置文件以备以后测试同样型号手机时使用，这样大大减少了每次测试时的重复操作，提高了系统的自动化程度。

应用方案：
采用NI Motion 控制模块控制伺服电机进行驱动
该测试系统使用虚拟仪器使系统规模最小化，提高系统的稳定性且易于维护和扩展，操作界面友好。

使用的产品：
PXI-8186控制器、PXI-7344、UMI-7764、YASKAWA公司的SGDL-04AS伺服单元和SGML-04AF12伺服电机以及基于虚拟仪器的用户界面

介绍:
本文介绍的基于虚拟仪器技术的手机翻盖耐久性测试系统采用NI Motion 控制模块控制伺服电机进行驱动，运行速度可达到原来的4倍多且同时可对4部手机进行测试，而采用National Instruments公司的虚拟仪器（LabVIEW）进行开发，使操作界面非常友好。
在测试过程中操作人员针对每批不同型号的手机在初次测试时可使用微调功能将各个参数调整至理想值，并且可将这些参数存成相应的配置文件以备以后测试同样型号手机时使用，这样大大减少了每次测试时的重复操作，提高了系统的自动化程度。

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