x-ray膜厚测试仪是一部简单、容易操作，且经济实惠的测量仪器。大测量室可以测量大体积，不规则形状的工件。DMC测量法能对测量距离修正，可以自动测量复杂的形状，大的线路板也可轻易的放在测量头及测量台之间的槽进行测量。菲希尔x-ray膜厚测试仪配备微焦距XRAY管，四个电动移动准值器，尺寸为圆形直径0.1MM；0.2MM；及方形的0.05MM*0.05MM；0.03MM*0.2MM，还有三个基本滤片选用，使光谱圈更合适分析，基本操作软件WINFTM V6 LIGHT，可以同时间测量多至4层镀层、或进行多至5元素的合金分析、又或是最多测量两个正离子的药水浓度测量分析。在不使用标准片做校正的情况下可达到一个相当不错的测量结果。

x-ray膜厚测试仪只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。

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