散射型光源主要分为方型和环型两种，通常在被测物体需要均衡的表面照明并且要避免反光或耀斑的情形下需要使用这种照明方式。使用时将光源贴近被测物体，采用低角度照明方式，可以清晰地将表面缺陷、字符显现出来，同时避免反光。特别适用于BGA检测，QFP集成电路的管脚字符检测，集成电路料带的检测，表面划伤检测等等。

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