产品介绍
镀层膜厚仪是集贵金属检测技术和经验与一身，以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、简宜的操作界面来能满足贵金属成分检测的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。测量贵金属使用高效且高精度的半导体接收器，满足贵金属的成分检测和镀层厚度测量的要求，且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，仪器小巧,是一款桌面式的测量仪器,使仪器操作更人性化、更方便。镀层膜厚仪具有打印柱状图，正态分布图表，以及Cp和 Cpk指标的功能。自动的求平均功能降低了测量数据范围内的表面粗糙度影响.探头自动识别。应用程式特定的校准参数储存在测量探头中，因此仪器一旦连接了任何探头都能立即进行测量。
镀层膜厚仪只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
FISCHER 镀层膜厚仪测量技术领先同行15年，在同测量领域独领风蚤，成为膜厚仪之王，精准的数据，高端先进的技术，严格的品质要求，可靠、可信、快速的服务，及一些专业意见与技术扶持，值得您的信赖。
期待您的来电，金霖电子 吴小姐 手机：13603036715 TEL：0755-29371651 FAX：29371653 公司网址：www.kinglinhk.com 地址：宝安中心区宏发中心大厦
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