fischer 公司有着60多年对膜层厚度、微硬度及物料测量的经验，HELMUT FISCHER公司不断在基本原理上开发出创新的测量技术来解决一些新的检测要求。为了不断完善客户的要求， fischer 公司推新立异，在测量膜厚方面，采用最新的FP数字计算方法，使测量数据更精确。

深圳膜厚仪/fischer膜厚仪/进口膜厚仪在技术上一直以来都领先于全世界的测厚行业,X-射线荧光镀层厚度测量仪能够测量包含原子序号17至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。
A：区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定最多4层及24种元素。
B ：精确度领先于世界，精确到0.025mil
C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求,如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
E ：可测量任一测量点，最小可达0.025 x 0.051毫米

深圳膜厚仪/fischer膜厚仪/进口膜厚仪主要应用方面：
由于可测量的元素范围拓阔至从铝至铀，X射线的应用范围从工业应用伸展到科学应用。它可应用于治金学、地质学、鉴证学或自然科学等，在工业方面，广泛用于五金电镀、电子半导体、PCB线路、首饰珠宝、卫浴、汽配的成份分析和镀层测量方面。