X射线镀层测厚仪
产品型号：XDL
厂商性质：代理/分销商
公司名称：金东霖电子科技有限公司
地 址：深圳市宝安中心区创业一路宏发中心大厦
联 系 人：吴静
联系电话：0755-29371651
X射线镀层测厚仪适合快速及非破坏性测量物料成份和镀层厚度的质量。它能够应用于广泛的产品种类。镀层厚度和镀层成份的关系通常是非常复杂的，只要使用WIN FTM软件，所有物理上可以测量的镀层组合都能够解决。当设定测量程式（Def.MA)及自由种类选择时，它能提供非常大的弹性。
X射线镀层测厚仪样品室
－样品室结构 开槽式样品室 开闭式样品室
－最大样品台尺寸 360*380*240
－XY轴程控移动范围 标准：152.4 x 177.8mm 还有5种规格任选 300mm x 300mm
－Z轴程控移动高度 80mm XYZ程控时，152.4mm XY轴手动时，269.2mm
－XYZ三轴控制方式 多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制
X射线镀层测厚仪可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
计算机系统配置 IBM计算机 惠普或爱普生彩色喷墨打印机
分析应用软件 操作系统：Windows2000中文平台 分析软件包：SmartLink FP软件包
－测厚范围 可测定厚度范围：取决于您的具体应用。
－基本分析功能 采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
可检测元素范围：CL17 – U92
期待您的来电，金霖电子 吴小姐 手机：13603036715 TEL：0755-29371651 FAX：29371653 公司网址：www.kinglinhk.com 地址：宝安中心区宏发中心大厦
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